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AT817D LCR 數(shù)字電橋
過時
推薦型號: AT3817A
RS232
SCPI
概覽
    AT817D采用高能處理器,使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測試儀器。精簡了AT817的部分功能,內(nèi)建50Hz~100kHz 10點測試頻率,并且提供0.1V、0.3V和1V測試電平,相對于AT817更為優(yōu)惠的價格,使其能完全滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場的使用。
特征
  • 高亮度,超清晰四色VFD顯示。
  • 校正功能:全量程程開路和短路掃頻清零。
  • 第三窗口可同時顯示 Z, D, Q, ΔABS, Δ%或分選結(jié)果。
  • 比較器(分選)功能
規(guī)格
測量參數(shù)L,C,R,Z,D,Q
基本準確度0.1%
測試頻率50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,
20kHz,40kHz,50kHz, 100kHz(10 點)
測試量程自動、手動和標稱量程,6量程
測試速度3 次/秒 8次/秒 20次/秒
顯示范圍L: 0.001μH-9999.9H
C: 0.001pF – 9999.9μF
R,X,Z: 0.0001Ω - 99.999MΩ
D, 0.00001 – 9.99999
Q: 0.00001 – 99999.9
輸出阻抗30和100Ω
監(jiān)視參數(shù)Z, D, Q, Δ, Δ%
讀數(shù)所有參數(shù)全5位:99999
等效方式串聯(lián)和并聯(lián)等效
信號電平0.1Vrms, 0.3Vrms 和 1Vrms
觸發(fā)方式內(nèi)部、手動、外部和遠程
比較器5檔分選,P1/P2/P3/AUX/NG
比較方式SEQ/ABS/PER
校準開路清零、短路清零-
訊響功能關(guān)/P1/P2/P3/AUX/NG
接口RS232/HANDLER
通訊協(xié)議SCPI
電源要求AC 198V-240V, 50Hz-60Hz
15W MAX
尺寸與重量264 (寬)x107(高)x350 (深)
4kg,凈重
應用
    基礎(chǔ)元件和材料測量:電感器、磁芯、電容器、電阻器、變壓器等
文檔
文檔
宣傳手冊 中文(CN)

|

英文(EN)
用戶手冊 中文(CN)

|

英文(EN)
附件
標配

ATL501

ATL501

開爾文測試夾

ATL600

ATL600

短路片(數(shù)字電橋、電容電感測試儀用)

ATL601

ATL601

徑向元件測試夾具

選件

ATL501A

ATL501A

四端開爾文測試盒

ATL508A

ATL508A

SMD元件測試鉗

ATL608

ATL608

SMD貼片夾具

軟件
NONE
類似產(chǎn)品

對比

AT2811

  • 測量參數(shù): L,C,R,Z,D,Q
  • 基本準確度: 0.25%
  • 測試頻率: 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動和手動, 六量程
  • 測試速度: 慢速:3 次/秒,快速:10 次/秒

對比

AT2816A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~200kHz(連續(xù)頻點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT2816B

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~200kHz(37點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT2817

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~100kHz(16頻點)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40/10/3 次/秒

對比

AT2817A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50/60/100/120/200/400/500/1k/2k/4k/5k/10k/20k/40k/100kHz
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40/10/3 次/秒

對比

AT2818

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次 / 秒 10 次 / 秒,5 次 / 秒,

對比

AT3810A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT3816A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~200kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT3817A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~100kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT3818

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT610D

  • 測量參數(shù): C,D
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,6量程
  • 測試速度: 3 次/秒 8次/秒 20次/秒

對比

AT810

  • 測量參數(shù): L,C.R,Z,D,Q
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測試量程: 自動、手動,6量程
  • 測試速度: 15 次/秒, 5 次/秒, 3 次/秒

對比

AT810A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.05%
  • 測試頻率: 10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT810D

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測試量程: 自動、手動量程,6量程
  • 測試速度: 2 次 / 秒,5 次 / 秒

對比

AT825

  • 測量參數(shù): 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz,10kHz
  • 測試量程: -
  • 測試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對比

AT826

  • 測量參數(shù): 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz, 100kHz
  • 測試量程: -
  • 測試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對比

AT2617

  • 測量參數(shù): Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q
  • 基本準確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01%
  • 測試量程: 自動、手動和標稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT827

  • 測量參數(shù): C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動和手動
  • 測試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒

對比

AT828

  • 測量參數(shù): C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準確度: 0.2%
  • 測試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz,50kHz和100kHz
  • 測試量程: 自動和手動
  • 測試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒
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