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AT2817 精密LCR 數(shù)字電橋
停產(chǎn)
推薦型號: AT2817A
RS232HANDLER
SCPI
數(shù)據(jù)記錄U盤存儲
概覽
    AT2817 采用高性能處理器,使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測試儀器。依賴于安柏精湛的技術(shù),使其性能無可挑剔。

    內(nèi)建50Hz~100kHz 16點測試頻率,并且提供0.1V,0.3V和1.0V的測試電平,使其能完全滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場的使用。

    使用安柏實時儀器操作系統(tǒng),全中文菜單界面,使AT2817具有傻瓜式操作界面。

    增強自動分選機接口,30次/秒的測試速度,超高穩(wěn)定性,為全自動設(shè)備做好準(zhǔn)備。

    內(nèi)置RS-232接口,兼容SCPI編程語言,很容易與計算機通訊,完成所有儀器功能。

    內(nèi)置Handler 6檔分選接口,配合RS-232接口完成復(fù)雜的自動控制系統(tǒng)。
特征
  • 高亮度,真彩LCD顯示。
  • 校正功能:全量程程開路和短路掃頻清零。
  • 10組文件管理,可完全存儲儀器狀態(tài)和比較器設(shè)置。
  • 增強型比較器(分選)功能:可編程的P1~P3 3檔分選,主參數(shù)HI,IN,LO顯示和輸出,NG,AUX,SREJ,IDX,EOM 等顯示及輸出。
  • 絕對偏差(ABS)比較方式和相對偏差比較方式。
  • 根據(jù)標(biāo)稱值自動量程選擇。
  • 可開關(guān)的附屬檔(AUX)分選。
  • 可編程1~256次平均次數(shù),提供穩(wěn)定性。
  • 內(nèi)置RS232C接口和Handler接口。
  • 1000V超強沖擊保護
規(guī)格
測量參數(shù)Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
基本準(zhǔn)確度0.05%
測試頻率50Hz~100kHz(16頻點)
測試量程自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
測試速度40/10/3 次/秒
顯示范圍L: 0.00001μH-9999.99H
C: 0.00001pF – 9999.99μF
R,X,Z: 0.00001Ω - 99.9999MΩ
D, 0.00001 – 9.99999
Q: 0.00001 – 99999.9
Δ%: -999999% - 999999%
θ(deg): -179.999° -179.999°
θ(rad):-3.14159 – 3.14159
DCR: 0.00001Ω ~ 99.9999MΩ
輸出阻抗30Ω,50Ω 和100Ω
監(jiān)視參數(shù)Z, D, Q, θr, θd, R, X, G, B, Y, Vac, Iac, Δ, Δ%
讀數(shù)所有參數(shù)全6位:999999
等效方式串聯(lián)和并聯(lián)
信號電平0.1V/0.3V/1V
平均次數(shù)1~256
觸發(fā)方式內(nèi)部、手動、外部和遠(yuǎn)程
觸發(fā)延時0.01ms~60s
比較器14檔分選,10組合格檔,1組不合格檔,
1組副參數(shù)不合格檔
列表掃描10步(頻率、電壓和電流)
比較方式SEQ/ABS/PER
校準(zhǔn)開路清零、短路清零(掃頻和點頻)
文件內(nèi)部存儲10個文件,外部USB存儲10個文件
數(shù)據(jù)記錄9999 組文件(.csv)
訊響功能關(guān)/合格/不合格
接口RS232/HANDLER
通訊協(xié)議SCPI
其它功能自動LCZ
電源要求AC 100V-240V, 50Hz-60Hz
20W MAX
尺寸與重量264 (寬)x107(高)x350 (深)
3kg,凈重
應(yīng)用
    電感器、磁芯、電容器、電阻器、變壓器等元件和材料測量
文檔
文檔
宣傳手冊 中文(CN)

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英文(EN)
用戶手冊 中文(CN)

|

英文(EN)
附件
標(biāo)配
NONE
選件
NONE
軟件
AT281x 數(shù)據(jù)采集軟件
Rev.A1.0

中文版

應(yīng)用程序

免費軟件

5.4MB

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AT281x 數(shù)據(jù)采集軟件(英文版)
Rev.A1.0

英文版

應(yīng)用程序

免費軟件

4.9MB

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安柏通訊助手
Rev.4.23

中文版

應(yīng)用程序

免費軟件

2.4MB

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類似產(chǎn)品

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AT2811

  • 測量參數(shù): L,C,R,Z,D,Q
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.25%
  • 測試頻率: 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動和手動, 六量程
  • 測試速度: 慢速:3 次/秒,快速:10 次/秒

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AT2816A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~200kHz(連續(xù)頻點)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT2816B

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50Hz~200kHz(37點)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

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AT2817A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測試頻率: 50/60/100/120/200/400/500/1k/2k/4k/5k/10k/20k/40k/100kHz
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40/10/3 次/秒

對比

AT2818

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次 / 秒 10 次 / 秒,5 次 / 秒,

對比

AT3810A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準(zhǔn)確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT3816A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準(zhǔn)確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~200kHz(分辨率 0.01Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT3817A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準(zhǔn)確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~100kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT3818

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg DCR
  • 基本準(zhǔn)確度: 慢速/中速:0.05%;快速:0.1%
  • 測試頻率: 10Hz~300kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 40 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT610D

  • 測量參數(shù): C,D
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,6量程
  • 測試速度: 3 次/秒 8次/秒 20次/秒

對比

AT810

  • 測量參數(shù): L,C.R,Z,D,Q
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測試量程: 自動、手動,6量程
  • 測試速度: 15 次/秒, 5 次/秒, 3 次/秒

對比

AT810A

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.05%
  • 測試頻率: 10Hz~20kHz(分辨率 0.001Hz)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT810D

  • 測量參數(shù): Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz
  • 測試量程: 自動、手動量程,6量程
  • 測試速度: 2 次 / 秒,5 次 / 秒

對比

AT817D

  • 測量參數(shù): L,C,R,Z,D,Q
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.1%
  • 測試頻率: 50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,
  • 20kHz,40kHz,50kHz, 100kHz(10 點)
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,6量程

對比

AT825

  • 測量參數(shù): 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz,10kHz
  • 測試量程: -
  • 測試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對比

AT826

  • 測量參數(shù): 電感 L, 電容 C, 電阻 R, 阻抗 Z, 自動
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測試頻率: 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz, 100kHz
  • 測試量程: -
  • 測試速度: 4 次/秒, 1.5 次/秒

對比

AT2617

  • 測量參數(shù): Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.1%
  • 測試頻率: 100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01%
  • 測試量程: 自動、手動和標(biāo)稱量程,9量程
  • 測試速度: 30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒

對比

AT827

  • 測量參數(shù): C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz
  • 測試量程: 自動和手動
  • 測試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒

對比

AT828

  • 測量參數(shù): C-D, C-Q, C-R, L-D, L-Q, L-R, L-Rdc, R-Q, R-X, R-Rdc, Rdc, Z-D, Z-Q, Z-θr, Z-θd
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.2%
  • 測試頻率: 50Hz, 100Hz,120Hz,1kHz,2kHz,10kHz,50kHz和100kHz
  • 測試量程: 自動和手動
  • 測試速度: 慢速2.5次/秒,快速10次/秒
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